Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників
Ескіз недоступний
Дата
2024
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Київ : ФОП Самченко А. М.
Анотація
Ця монографія є комплексним дослідженням в області нанотехнологій, зосередженим на оцінюванні якості наноструктур на поверхні напівпровідників. В роботі розглядаються ключові показники якості наноструктур, їхні властивості, а також методи їх класифікації та оцінювання. Особлива увага приділяється нормативному регулюванню у сфері наноматеріалів, методам отримання наноструктурованих шарів на поверхні напівпровідників та їх застосуванню в системах накопичення та зберігання енергії. Друга частина монографії присвячена детальному аналізу методів оцінювання якості наноструктур, включаючи функціональні моделі та системний підхід до управління якістю. Також розглядаються технологічні критерії забезпечення якості наноструктур та методи оцінювання показників якості. Остання частина присвячена розробці нормативних документів для оцінювання якості наноструктур та аналізу екологічної безпеки наноматеріалів. Монографія містить значний обсяг експериментальних даних, аналіз літератури та висновків, що робить її цінним ресурсом для дослідників, інженерів та студентів, які займаються вивченням та застосуванням нанотехнологій у напівпровідниковій промисловості.
Опис
Ключові слова
показники якості наноструктур, методи отримання наноструктурованих шарів, оцінювання якості наноструктур
Бібліографічний опис
Сичікова Я., Богданов І., Ковачов С. Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія. – Київ : ФОП Самченко А. М., 2024. – 352 с.