Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників
| dc.contributor.author | Сичікова, Яна Олександрівна | |
| dc.contributor.author | Богданов, Ігор Тимофійович | |
| dc.contributor.author | Ковачов, Сергій Сергійович | |
| dc.date.accessioned | 2026-05-04T18:23:15Z | |
| dc.date.available | 2026-05-04T18:23:15Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description.abstract | Ця монографія є комплексним дослідженням в області нанотехнологій, зосередженим на оцінюванні якості наноструктур на поверхні напівпровідників. В роботі розглядаються ключові показники якості наноструктур, їхні властивості, а також методи їх класифікації та оцінювання. Особлива увага приділяється нормативному регулюванню у сфері наноматеріалів, методам отримання наноструктурованих шарів на поверхні напівпровідників та їх застосуванню в системах накопичення та зберігання енергії. Друга частина монографії присвячена детальному аналізу методів оцінювання якості наноструктур, включаючи функціональні моделі та системний підхід до управління якістю. Також розглядаються технологічні критерії забезпечення якості наноструктур та методи оцінювання показників якості. Остання частина присвячена розробці нормативних документів для оцінювання якості наноструктур та аналізу екологічної безпеки наноматеріалів. Монографія містить значний обсяг експериментальних даних, аналіз літератури та висновків, що робить її цінним ресурсом для дослідників, інженерів та студентів, які займаються вивченням та застосуванням нанотехнологій у напівпровідниковій промисловості. | |
| dc.identifier.citation | Сичікова Я., Богданов І., Ковачов С. Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників : монографія. – Київ : ФОП Самченко А. М., 2024. – 352 с. | |
| dc.identifier.uri | https://dspace.bdpu.org.ua/handle/123456789/7031 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Київ : ФОП Самченко А. М. | |
| dc.subject | показники якості наноструктур | |
| dc.subject | методи отримання наноструктурованих шарів | |
| dc.subject | оцінювання якості наноструктур | |
| dc.title | Підходи до оцінювання якості наноструктур на поверхні напівпровідників | |
| dc.type | Other |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- Pidkhody do otsinyuvannya yakosti nanostruktur na poverkhni napivprovidnykiv.pdf
- Розмір:
- 17.85 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.71 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed to upon submission
- Опис: